%0 Print %0 Book %E J. T. Trauger, D. Moody, B. Gordon, Y. Gursel, M. A. Ealey and R. B. Bagwell -- %E R. Graue, D. Kampf, S. Roser, U. Bastian and W. Seifert -- %E P. C. Chen, K. G. Carpenter and R. C. Romeo -- %E G. Naletto and L. Poletto -- %E J. L. Robichaud -- %E R. A. Woodruff -- %E R. A. Stern, L. Shing, Y.-W. Chung and M. U. Guruz -- %E J. C. Green, E. Wilkinson and J. A. Morse -- %E H. C. Ford, M. Clampin, G. F. Hartig, G. D. Illingworth, M. Sirianni, A. R. Martel, G. R. Meurer, W. J. McCann, P. C. Sullivan, F. Bartko, N. Benitez, J. Blakeslee, R. Bouwens, T. Broadhurst, R. A. Brown, C. J. Burrows, D. Campbell, E. S. Cheng, P. D. Feldman, M. Franx, D. A. Golimowski, C. Gronwall, R. A. Kimble, J. E. Krist, M. P. Lesser, D. Magee, G. Miley, M. Postman, M. D. Rafal, P. Rosati, W. B. Sparks, H. D. Tran, Z. I. Tsvetanov, P. Volmer, R. L. White and R. A. Woodruff -- %E R. A. Brown, C. J. Burrows, S. Casertano, M. Clampin, D. C. Ebbets, E. B. Ford, K. W. Jucks, N. J. Kasdin, S. Kilston, M. J. Kuchner, S. Seager, A. Sozzetti, D. N. Spergel, W. A. Traub, J. T. Trauger and E. L. Turner -- %E R. P. Linfield -- %E J. T. Trauger, T. Hull, K. Stapelfeldt, D. Backman, R. B. Bagwell, R. A. Brown, A. Burrows, C. J. Burrows, M. A. Ealey, C. Ftaclas, S. R. Heap, N. J. Kasdin, J. I. Lunine, G. W. Marcy, D. C. Redding, R. Sahai, W. A. Traub, D. Spergel and B. E. Woodgate -- %E W. J. Borucki, D. G. Koch, J. J. Lissauer, G. B. Basri, J. F. Caldwell, W. D. Cochran, E. W. Dunham, J. C. Geary, D. W. Latham, R. L. Gilliland, D. A. Caldwell, J. M. Jenkins and Y. Kondo -- %E D. P. Bennett, J. Bally, I. Bond, E. S. Cheng, K. Cook, D. Deming, P. Garnavich, K. Griest, D. Jewitt, N. Kaiser, T. R. Lauer, J. Lunine, G. Luppino, J. C. Mather, D. Minniti, S. J. Peale, S. H. Rhie, J. Rhodes, J. Schneider, G. Sonneborn, R. Stevenson, C. Stubbs, D. Tenerelli, N. Woolf and P. Yock -- %E D. J. Erskine and J. Edelstein -- %E M. Auvergne, L. Boisnard, J.-T. Buey, G. Epstein, H. Hustaix, M. Jouret, P. Levacher, S. Berrivin and A. Baglin -- %E O. H. W. Siegmund -- %E J. S. Lapington -- %E R. A. Kimble, B. Pain, M. Ortiz, J. B. Heynssens, T. J. Norton and J. P. Haas -- %E A. S. Tremsin, J. V. Vallerga, O. H. W. Siegmund, C. P. Beetz and R. W. Boerstler -- %E M. P. Ulmer, B. W. Wessels and O. H. W. Siegmund -- %E P. N. Jelinsky, P. F. Morrissey, J. M. Malloy, S. R. Jelinsky, O. H. W. Siegmund, C. Martin, D. Schiminovich, K. Forster, T. Wyder and P. G. Friedman -- %E W. P. Blair, J. W. Kruk, H. W. Moos and W. R. Oegerle -- %E P. Gurfil and N. J. Kasdin -- %E K. Horne -- %E J. W. Kruk, B. F. Class, D. Rovner, J. Westphal, T. B. Ake, H. W. Moos, B. A. Roberts and L. Fisher -- %E A. Koratkar, B. M. Peterson and R. S. Polidan -- %E K. G. Carpenter, C. J. Schrijver, R. G. Lyon, L. G. Mundy, R. J. Allen, J. T. Armstrong, W. C. Danchi, M. Karovska, J. Marzouk, L. M. Mazzuca, D. Mozurkewich, S. G. Neff, T. A. Pauls, J. K. Rajagopal, G. Solyar and X. Zhang -- %E K. J. Johnston -- %E B. M. Peterson, R. S. Polidan and E. L. Robinson -- %E M. Hurwitz, R. Davis, S. Dawson, P. Dobson, W. Donakowski, A. Friedman, G. A. Gaines, J. Edelstein, R. Hemphill, J. Hoberman, J. Janicik, P. N. Jelinsky, M. L. Lampton, W. Marchant, M. Marckwordt, J. Mirczak, T. P. Sasseen, M. Sholl, O. H. W. Siegmund, M. M. Sirk, D. Stone, S. Sulack, E. Riddle Taylor, M. Veno and J. Wolff -- %E J. Edelstein, E. J. Korpela, B. Y. Welsh, K. W. Min, W. Han and U. Nam -- %E C. Martin, T. Barlow, W. Barnhart, L. Bianchi, B. K. Blakkolb, D. Bruno, J. Bushman, Y.-I. Byun, M. Chiville, T. Conrow, B. Cooke, J. Donas, J. L. Fanson, K. Forster, P. G. Friedman, R. Grange, D. Griffiths, T. Heckman, J. Jee, P. N. Jelinsky, S. Kim, S.-C. Lee, Y.-W. Lee, D. Liu, B. F. Madore, R. Malina, A. Mazer, R. McLean, B. Milliard, W. Mitchel, M. Morais, P. F. Morrissey, S. G. Neff, F. Raison, D. Randall, M. Rich, D. Schiminovich, W. Schmitigal, A. Sen, O. H. W. Siegmund, T. Small, J. M. Stock, F. Surber, A. Szalay, A. H. Vaughan, T. Weigand, B. Y. Welsh, P. Wu, T. Wyder, C. K. Xu and J. Zsoldas -- %E J. C. Green and E. Wilkinson -- %E S. Chakrabarti, M. W. Bautz, C. R. Canizares, R. Cen, T. A. Cook, N. Craig, A. Dalgarno, C. Heiles, E. B. Jenkins, J. S. Lapington, H. R. Miller, J. P. Ostriker, K. R. Sembach, J. M. Shull and A. N. Witt -- %E M. A. Barstow, L. Binette, N. Brosch, F.-Z. Cheng, M. Dennefeld, A. I. Gomez de Castro, H. Haubold, K. A. van der Hucht, N. Kappelmann, P. Martinez, A. Moisheev, I. Pagano, E. N. Ribak, J. Sahade, B. I. Shustov, J.-E. Solheim, W. Wamsteker, K. Werner, H. Becker-Ross and S. Florek -- %E G. Naletto, V. Da Deppo, P. Nicolosi, P. Zambolin, C. Barbieri and S. Fornasier -- %E S. R. McCandliss, K. France, P. D. Feldman and R. Pelton -- %E P. Conconi, G. Pareschi, E. Antonello, S. Scuderi and L. Poletto -- %E M. G. Littman, M. Carr, J. Leighton, E. Burke, D. N. Spergel and N. J. Kasdin -- %E T. A. Cook -- %E S. Debei, M. De Cecco, G. Parzianello, B. Saggin, P. Ramous, M. Zaccariotto, F. Angrilli, G. Bianchini and C. Barbieri -- %E J. M. Holz, C. Kunt, C. Lashley and D. B. McGuffey -- %E G. R. Lemaitre and M. Duban -- %E K. Ryu, K. Nishikida, J. Edelstein, K. Seon, I. Yuk, K. Min, W. Han, E. J. Korpela, R. Chung and K. McKee -- %E M. Sholl, W. Donakowski, M. M. Sirk, T. Clauss, M. L. Lampton, J. Edelstein and M. Hurwitz -- %E E. Wilkinson, N. M. Schneider, S. R. Steg, J. C. Westfall, B. P. Lamprecht, J. P. Andrews, O. H. W. Siegmund and M. N. Beasley -- %E J. R. Walsh, A. Pasquali and N. Pirzkai -- %E M. Sirianni, M. Clampin, G. F. Hartig, H. C. Ford, G. D. Illingworth, V. S. Argabright, B. Burmester, G. De Marchi, W. Koldewyn, A. R. Martel, M. Mutchler, A. Riess, R. J. Schrein and P. C. Sullivan -- %E G. R. Meurer, D. J. Lindler, J. Blakeslee, C. R. Cox, A. R. Martel, H. D. Tran, R. Bouwens, H. C. Ford, M. Clampin, G. F. Hartig, M. Sirianni and G. De Marchi -- %E S. Beland, S. Penton and E. Wilkinson -- %E A. P. Martin, J. V. Vallerga, J. B. McPhate and O. H. W. Siegmund -- %E G. F. Hartig, J. E. Krist, A. R. Martel, H. C. Ford and G. D. Illingworth -- %E R. A. Mayo, V. A. Spector and C. F. Lillie -- %E H. C. Ford, M. Clampin, G. D. Illingworth, J. E. Krist, S. S. Olivier, L. Petro and G. E. Sommagren -- %E E. W. Dunham, J. C. Geary, R. H. Philbrick, C. K. Stewart and D. G. Koch -- %E E. M. Malumuth, R. J. Hill, E. S. Cheng, D. A. Cottingham, Y. Wen, S. D. Johnson and R. S. Hill -- %E R. Hemphill and J. Edelstein -- %E M. C. Uslenghi, G. Bonanno, M. Belluso, A. Cali, C. Timpanaro, R. Cosentino, S. Scuderi and A. Modica -- %E J. S. Lapington, S. Chakraborti, T. A. Cook, R. F. Goeke, J. C. Gsell and V. T. Gsell -- %E U. Nam, J. Rhee, E. J. Korpela, H. Jin, D. Lee, J. S. Hull, P. Berg, W. Han, K. Min and J. Edelstein -- %E D. J. Sahnow -- %E S. N. Osterman, N. M. Schneider, D. A. Content, W. E. McClintock, S. R. Steg, J. C. Westfall, B. P. Lamprecht, J. P. Andrews and O. H. W. Siegmund -- %E M. L. Lampton, C. Bebek, C. W. Akerlof, G. Aldering, R. Amanullah, P. Astier, E. Barrelet, L. Bergstrom, J. Bercovitz, G. M. Bernstein, M. Bester, A. Bonissent, C. R. Bower, W. C. Carithers, E. D. Commins, C. Day, S. E. Deustua, R. S. DiGennaro, A. Ealet, R. S. Ellis, M. Eriksson, A. Fruchter, J. Genat, G. Goldhaber, A. Goobar, D. E. Groom, S. E. Harris, P. R. Harvey, H. D. Heetderks, S. E. Holland, D. Huterer, A. Karcher, A. G. Kim, W. F. Kolbe, B. Krieger, R. Lafever, J. Lamoureux, M. E. Levi, D. S. Levin, E. V. Linder, S. C. Loken, R. Malina, R. Massey, T. McKay, S. M. McKee, R. Miquel, E. Mortsell, N. Mostek, S. Mufson, J. A. Musser, P. E. Nugent, H. M. Oluseyi, R. Pain, N. P. Palaio, D. H. Pankow, S. Perlmutter, R. Pratt, E. Prieto, A. Refregier, J. Rhodes, K. E. Robinson, N. Roe, M. Sholl, M. S. Schubnell, G. Smadja, G. F. Smoot, A. Spadafora, G. Tarle, A. D. Tomasch, H. von der Lippe, D. Vincent, J.-P. Walder and G. Wang -- %E M. P. Kowalski, R. G. Cruddace, K. S. Wood, D. J. Yentis, H. Gursky, T. W. Barbee, Jr., W. H. Goldstein, J. F. Kordas, G. G. Fritz, W. R. Hunter, M. A. Barstow, N. P. Bannister, J. L. Culhane and J. S. Lapington -- %E M. A. Barstow, N. P. Bannister, R. G. Cruddace, M. P. Kowalski, K. S. Wood, D. J. Yentis, H. Gursky, T. W. Barbee, Jr., W. H. Goldstein, J. F. Kordas, G. G. Fritz, J. L. Culhane and J. S. Lapington -- %E E. J. Korpela, J. Edelstein, P. Berg, M. S. Bowen, R. Chung, M. Feuerstein, W. Han, J. S. Hull, H. Jin, D. Lee, K. W. Min, U.-W. Nam, K. Nishikida, J. Rhee, K. Ryu, K.-I. Seon, B. Y. Welsh and I.-S. Yuk -- %E W. M. Harris, F. L. Roesler, K. H. Nordsieck, L. Ben-Jaffel and J. Corliss -- %E H. D. Tran, G. R. Meurer, H. C. Ford, A. R. Martel, M. Sirianni, R. C. Bohlin, M. Clampin, C. R. Cox, G. De Marchi, G. F. Hartig, R. A. Kimble and V. S. Argabright %E Blades, J. Chris %E Siegmund, Oswald H. W. %E Society of Photo-optical Instrumentation Engineers %E International Commission for Optics %I SPIE %D 2003 %C Bellingham, Wash., USA %G English %B Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering ; %@ 0819446335 %@ 0277-786X %@ ; %T Future EUV/UV and visible space astrophysics missions and instrumentation : 22-23 August 2002, Waikoloa, Hawaii, USA